Produktneuheit 28. April 2025

TopMap Micro.View+ ist die nächste Generation optischer Oberflächenmesstechnik von Polytec. Sein modulares Design ermöglicht umfangreiche Konfigurationen für maßgeschneiderte Messlösungen – Rauheit, Textur oder Mikrostrukturen, Form oder Rauheit auf präzisionsgefertigten Teilen oder Mikrosystemen. Micro.View+ ist konzipiertt fürs Messlabor und die Forschung, erlaubt via Sensorintegration aber auch in-line Anwendungen und getaktete Fertigungskontrollen. Visualisieren Sie die 3D-Topographie und nutzen Sie den Farbmodus für eine aussagekräftigere Darstellung und Unterscheidung z.B. von Oberflächenfehlern oder zur Dokumentation. Optional mit 5-MP-Kamera liefert es verlässliche Details der Oberflächenbeschaffenheit und -form und ermöglicht so ein direktes Feedback zur Optimierung Ihrer Bearbeitungsprozesse.

Modular und automatisiert Prüflabor sowie in-line
Das umfangreiche Zubehörpaket vereinfacht und beschleunigt Ihre Messungen. Während der Focus Finder und der innovative Focus Tracker die Prüflinge unter allen Umständen und während der Neupositionierung immer im Fokus halten, unterstützt der voll motorisierte Positioniertisch Stitching und automatisierte Prüfungen, während er die Spitze/Neigung automatisch anpasst.
 High-End Weißlicht-Interferometer mit sub-nm Z-Auflösung
 100 mm vertikaler Messbereich mit CST Continuous Scanning Technology für durchgängige Messung
 Focus Finder und Focus Tracker für automatische Inspektionen
 Motorisierter Kipptisch und Revolver für automatische
 Operator Interface fürs Anlegen und Laden von Messrezepten und 1-Klick-Lösungen auf Produktionslevel
 Modular für anwendungsspezifische Konfigurationen
 NEU: Erweiterte Objektivoptionen 0,6X ... 111X jetzt verfügbar